| Ders Kodu - Ders Adı |
FİZ540 - Katıların Karakterizasyonu |
| Ders Türü |
Seçmeli Dersler |
| Ders Dili |
Türkçe |
| Teori + Uygulama |
3+0 |
| AKTS |
7.5 |
| Öğretim Elemanları |
PROFESÖR DOKTOR TÜLAY HURMA |
| Dersin Veriliş Biçimi |
Yüz Yüze |
| Dersin Önkoşulları |
Bu dersin ön koşulu ya da eş koşulu bulunmamaktadır. |
| Önerilen Dersler |
yok |
| Zorunlu ya da Önerilen Kaynaklar |
X-ray diffraction by polycrystalline materials / René Guinebretière. 2007, Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster Weinheim : Wiley-VCH, c2006.Semiconductor physics and devices : basic principles / Donald A. Neaman. New York : Mc-Graw-Hill, 2012.Basic Principles of Spectroscopy, Raymond Chang, McGraw-Hill Book Company, 1971. |
| Okuma Listesi |
X-ray diffraction by polycrystalline materials / René Guinebretière. 2007, Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster Weinheim : Wiley-VCH, c2006.Semiconductor physics and devices : basic principles / Donald A. Neaman. New York : Mc-Graw-Hill, 2012.Basic Principles of Spectroscopy, Raymond Chang, McGraw-Hill Book Company, 1971. |
| Değerlendirme |
1 ara sınav 1 ödev 1 Final sınavı |
| Staj & Uygulama |
Yok |
| Sürdürülebilir Kalkınma Amaçları |
|
Eskişehir Teknik Üniversitesi