| Ders Kodu - Ders Adı |
İTN532 - X-Ray Dif. in Ana. of Thin Fil.(İnce Film. Ana. X-Iş. Kır.) |
| Ders Türü |
Seçmeli Dersler |
| Ders Dili |
İngilizce |
| Teori + Uygulama |
3+0 |
| AKTS |
7.5 |
| Öğretim Elemanları |
DOKTOR ÖĞRETİM ÜYESİ BURCU ARPAPAY |
| Dersin Veriliş Biçimi |
Yüz yüze |
| Dersin Önkoşulları |
Yoktur |
| Önerilen Dersler |
Yoktur |
| Zorunlu ya da Önerilen Kaynaklar |
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering, Mario Birkholz, WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA; High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers, Vaclav Holy, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach, Springer; X-Ray Scattering from Semiconductors, Paul F Fewster, Imperial College Press |
| Okuma Listesi |
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering, Mario Birkholz, WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA; High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers, Vaclav Holy, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach, Springer; X-Ray Scattering from Semiconductors, Paul F Fewster, Imperial College Press |
| Değerlendirme |
Sınav, Ödev |
| Staj & Uygulama |
Yoktur |
| Sürdürülebilir Kalkınma Amaçları |
|
Eskişehir Teknik Üniversitesi