Akademik Dersler - İçerik

Temel Analiz Prensiplerini ve Kavramlarını Açıklar.
Mikroskobik yöntemlerin (SEM, TEM, AFM), ısıl analiz tekniklerinin (TG, DTA, DSC), yüzey karakterizasyonunun (BET, Zetametre) ve X-ışını yöntemlerinin (XRD, XRF, XPS) temel fiziksel ve kimyasal prensiplerini açıklar. Her bir tekniğe uygun numune özelliklerini (morfoloji, termal stabilite, yüzey alanı, zeta potansiyeli vb.) tanımlar. Zeta potansiyeli için Elektriksel Çift Tabaka ve izoelektronik nokta gibi temel kavramları tanımlayarak kolloidal sistemlerin stabilitesini açıklar.
Karakterizasyon Cihazlarının Bileşenlerini ve Mekanizmalarını Sınıflandırır.
SEM, TEM ve AFM cihazlarının temel bileşenlerini (elektron tabancası, vakum sistemi, lensler, problar) ve işlevlerini sınıflandırır. TG, DTA ve DSC gibi ısıl analiz cihazlarının farklı atmosfer ve sıcaklık programları oluşturma özelliklerini açıklar. BET yüzey analizinde kullanılan adsorpsiyon izotermlerinin türlerini (Tip I-VI) ve bunlara karşılık gelen gözenek yapılarını sınıflandırır. XRD'de kullanılan Bragg yasası ve XPS'teki fotoelektrik etki gibi temel çalışma mekanizmalarını açıklar.
Uygun Yöntemi Seçerek Deneysel Süreçleri ve Veri İşlemeyi Gerçekleştirir.
Bir malzeme ve özellik için en uygun karakterizasyon yöntemini seçer ve uygulama sürecini gerekçelendirir. Mikroskobik incelemeler (SEM/TEM görüntüleme), ısıl analizler (TG/DSC termogramları) ve BET ölçümleri için uygun numune hazırlama tekniklerini gerçekleştirir. Laboratuvar uygulamalarında elde edilen ham verileri (kütle kaybı, ısı akışı, potansiyel değeri) bilimsel yazılımlar kullanarak işler ve analiz sürecini oluşturur.
Analiz Sonuçlarını Yorumlar, Hesaplar ve Karakterizasyon Raporunu Sentezler.
SEM, TEM ve AFM ile elde ettiği morfolojik görüntüleri, yüzey topografisini ve yapısal detayları yorumlar. TG/DTA/DSC sonuçlarını kullanarak malzemelerin faz geçişlerini, cam geçiş sıcaklığını (Tg), termal bozunma sıcaklığını ve reaksiyon entalpilerini hesaplar. BET analizi sonucu elde ettiği özgül yüzey alanı ve gözenek boyutu dağılımı verilerini yorumlar. XRD verilerini kullanarak malzeme fazlarını, kristal yapılarını ve kristalit boyutlarını nitel/nicel olarak aydınlatır; XRF ve XPS ile kimyasal bileşim ve elementel bağ durumları hakkında çıkarımlar yapar. Tüm analiz sonuçlarını karşılaştırmalı olarak değerlendirir ve bir malzeme karakterizasyonu raporu hazırlar.